Здавалка
Главная | Обратная связь

Указания к выполнению работы



1. Собрать и отладить установку (рис. 4).

Рис. 4. Схема установки для исследования спектральных характеристик интерференционного светофильтра

1 – стабилизатор напряжения. 2 – трансформатор. 3 – источник сплошного спектра (лампа К – 10). 4 – конденсор. 5 – поляризатор. 6 – интерференционный светофильтр. 7 – угломерное устройство. 8 – конденсор. 9 – монохроматор. 10 – фотоприемник. 11 – регистрирующее устройство.

2. При выполнении п.1 задания для определения положения максимумов и ширин их полос пропускания необходимо ввести ИФ в ход лучей. Медленно вращая барабан механизма разворота диспергирующей системы монохроматора, находим длины волн, при которой пропуска­ниеИФ имеет максимальное значение, чем и определяется λмакс в спектре пропускания. Ширина полос пропускания определяется как раз­ность длин волн, при которых отсчеты по шкале гальвано­метра пропорциональные прошедшему потоку, в два раза меньше отсчета, пропорционального максимальному прошед­шему потоку.

3. Для нахождения спектрального коэффициента пропускания фильтра необходимо последовательно измерить падающий и прошедший через ИФ потоки в указанном диапазоне длин волн. Для установки требуемой длины волны необходимо воспользоваться таблицей градуировки монохроматора.

4. При измерении падающего потока излучения размеры входной и выходной щелей монохроматора должны быть одинаковыми. В интервале длин волн 410—850 нм ширина щелей берется такой величины, чтобы от­счет по шкале отсчетного устройства, пропорциональный падающему потоку, был не менее 100 делений.

5. Для выяснения характера расщепления длинноволнового максимума в поляризованном свете надеть на оправу конденсора 4 поляроид для видимой области спектра, закрепить на угломерном устройстве черное стекло (nD =1,52) и по углу Брюстера выставить плоскости поляризации поляроида. Это контролируется по минимуму отражения света от черного стекла при повороте поляроида.

6. Определить погрешность измерения Тmax и Тmin при i1=0°.

Литература

1. Прикладная физическая оптика Учебное пособие, С.–Пб., Политехника, 1995, стр. 196 – 202.

2. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.:Наука, 1970, стр. 87 – 92, 377 – 380.

3. Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия. Л.: Машиностроение, 1973, с.63 – 65, 150 – 167.

4. Нагибина И.М. Интерференция и дифракция света. Л.:Машиностроение, 1974, с.136 – 143.

5. Зайдель А.Н. Элементарные оценки ошибок измерений. М.: Наука, 1968.

Вопросы для самопроверки

1. На каком физическом явлении основано действие интерференционного светофильтра?

2. Устройство интерференционного светофильтра. Какие типы ИФ вам известны?

3. Назовите основные характеристики ИФ, приведите выражения для них и примерные численные значения.

4. Как влияет коэффициент отражения, пропускания и поглощения зеркал ИФ на его свойства?

5. Что такое порядок ИФ?

6. Изменятся ли характеристики ИФ, если светофильтр поместить в сходящийся пучок света?

7. Назовите причины смещения максимума полосы пропускания при увеличении угла падения света на ИФ.

8. Поясните причину расщепления максимума пропускания при увеличении угла падения света на ИФ.

9. С какой целью и как изготавливаются кратные (мультиплекс) ИФ?

 







©2015 arhivinfo.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.