Главная | Обратная связь

для студентов 3-го курса кафедры ФТН ФОПФ МФТИ

Лабораторный практикум по структурному анализу

 

Программа Практикума:

1. Рентгенографические методы исследования материалов

1.1. Метод Дебая: определение параметров решетки, идентификация кристаллических фаз;

1.2. Метод Лауэ: установление ориентации монокристаллического образца

1.3. Метод качания: определение периодов идентичности монокристалла, определение типа решетки Бравэ.

2. Порошковая дифрактометрия

2.1. Рентгенфазовый анализ: компьютерная обработка спектров, идентификация кристаллических фаз с использованием базы данных ICDD;

2.2. Количественный фазовый анализ с использованием корундовых чисел и компьютерных программ для полнопрофильной подгонки спектров;

2.3. Прецизионное определение параметров решетки кристаллической структуры.

2.4. Определение размера частиц и микронапряжений в материале.

3. Монокристальный структурный анализ

3.1. Определение параметров решетки и пространственной группы симметрии кристалла;

3.2. Анализ функции Паттерсона для расшифровки простых структур;

3.3. Применение прямых методов решения структуры.

4. Просвечивающая электронная микроскопия

4.1. Дифракция электронов на кристаллических и аморфных материалах.

4.2. Дифракционный контраст на несовершенных кристаллах.

5. Сканирующая электронная микроскопия

5.1. Микрозондовый рентгеноспектральный анализ.

5.2. Исследование рельефа поверхности.

 

Лабораторные работы:

Работа №1. Рентгенфазовый анализ при регистрации дифракционной картины на пленку (Метод Дебая). ( приготовление порошкового образца кристалла простой структурой кубической симметрии для съемки, зарядка камеры, проведение съемки, проявка пленки; обработка дебаеграммы, определение параметров решетки; расчет интенсивностей дебаевской дифракции для заданной структуры)

Работа №2. Рентгеновская порошковая дифрактометрия: качественный фазовый анализ.(оптическая схема дифрактометра – фокусировка брега-брентано, приготовление порошкового образца для съемки, проведение съемки на дифрактометре, обработка полученного спектра с помощью стандартного пакета программ дифрактометра, идентификация кристаллической фазы)

Работа №3. Рентгеновская порошковая дифрактометрия: количественный фазовый анализ.( приготовление порошкового образца смеси двух фаз для съемки, проведение съемки на дифрактометре, обработка полученного спектра с помощью стандартного пакета программ, идентификация кристаллических фаз; определение корундовых чисел для фаз, входящих в образец, вычисление весового состава образца по фазам; полнопрофильная подгонка спектра известными структурами фаз для определения количественного состава)

Работа №4. Рентгеновская порошковая дифрактометрия: определение размера зерен, измерение параметров кристаллической решетки твердых тел.(съемка образца нанокристаллического материала, установление характера уширений дифракционных линий, оценка размера нанокристаллических зерен; съемка дебаевского спектра образца кубического кристалла, измерение положений дифракционных максимумов, применение метода экстраполяции для прецизионного определения параметров решетки)

Работа №5. Рентгенография монокристаллов. Рентгенографические методы Лауэ и качания: определение кристаллографической ориентации монокристаллического образца и определение периодов идентичности кристаллической структуры. (приготовление монокристального образца для съемки, проведение съемки для двух различных ориентаций, проявка пленки, построение стереографических проекций и определение матрицы поворота в лабораторной системе координат; съемка рентгенограммы качания ориентированного кристалла, индицирование рефлексов на рентгенограмме, определение периодов идентичности вдоль оси вращения)

Работа №6. Рентгеноструктурный анализ: определение параметров решетки, пространственной группы симметрии и атомной структуры кристалла простого вещества.(приготовление образца кристалла с простой структурой кубической симметрии для съемки, проведение съемки на монокристальном дифрактометре с CCD детектором, определение параметров решетки по набору векторов обратной решетки, статистический анализ интенсивностей рефлексов, выявление систематических погасаний, определение пространственной группы симметрии кристалла; измерение плотности кристалла, определение элементного состава, установление атомной структуры)

Работа №7. Рентгеноструктурный анализ: применение функции Паттерсона и прямых методов расшифровки структур. (приготовление для съемки образца органического кристалла с простой структурой, проведение съемок, определение параметров решетки и пространственной группы симметрии, применение прямого метода для расшифровки атомной структуры; съемка образца кристалла с простой структурой кубической симметрии, анализ функции Паттерсона и расшифровка структуры )

Работа №8. Просвечивающая электронная микроскопия. Дифракция электронов: получение и индицирование электронограмм, определение параметров решетки кристалла. Темнопольное и светлопольное изображения.

Работа №9. Сканирующая электронная микроскопия: микрозондовый рентгеноспектральный анализ и исследование структуры поверхности.

 

Преподаватель кафедры ФТН ФОПФ МФТИ

к.ф.-м.н. С.С. Хасанов