Здавалка
Главная | Обратная связь

Размеры элементарных ячеек



h, k, l — индексы Миллера, определяющие, на сколько частей соответствующая их набору плоскость делит элементарную ячейку.

Для ортогональных ячеек: 1/d2 = h2/a2 + k2/b2 + l2/c2

(в частности для кубической ячейки 1/d2 = h2/a2)

Для гексагональной ячейки: 1/d2 = (4/3)([h2 + k2 + hk]/a2) + l2/c2

Процедура присвоения индексов Миллера каждому межплоскостному расстоянию для данного вещества называется индицированием. В результате процесса определяются параметры элементарной ячейки

Интенсивности линий:

Структурная амплитуда:

Ширина линий:

Формула Шерера

FWHM (full width at half maximum)

· положения линий - геометрия решетки (расстояния, углы)

· интенсивность - координаты атомов

· ширина - несовершенство кристалла

Другие дифракционные методы

Особенности дифракции нейтронов

· Нейтроны очень дороги - требуются реакторы для их получения;

· Используется для анализа кристаллических структур, содержащих легкие атомы - Н, Li, В;

· Единственный метод для анализа магнитной структуры.

Особенности электронной дифракции

· Можно использовать для очень малого количества вещества

· Используется для анализа особенностей кристаллической структуры на очень тонких образцах

Закон Вегарда

Закон Вегарда — аппроксимированное эмпирическое правило, которое гласит, что существует линейная зависимость при постоянной температуре между свойствами кристаллической решётки сплава и концентрацией отдельных его элементов.

Таким образом, параметры кристаллической решётки (а) твёрдого раствора (сплава) материалов с одинаковой структурой решётки, могут быть найдены путём линейной интерполяции между параметрами решётки исходных соединений, например для твёрдых растворов SixGe1-x и InPxAs1-x:

.

Можно также расширить это соотношение для определения энергии запрещенной зоны полупроводника. Используя, как и в предыдущем случае, InPxAs1-x, можно найти выражение, которое описывает зависимость энергии запрещенной зоны полупроводника Eg от соотношения её составляющих и параметра b:

 


 

 

Билет 6: Дефекты

Структурные дефекты - это энергетически возбужденные состояния Кристаллической решетки, связанные с нарушением строгой регулярности и Способа заполнения узлов кристаллической решетки.

Примесные дефекты, как следует из определения, обусловлены присутствием чужеродных атомов или молекул. Собственные дефекты не меняют качественного состава кристалла (меняться может лишь количественный состав). Их возникновение связано с влиянием температуры, механических радиационных и других видов воздействия на твердую фазу.

Концентрация равновесных дефектов для конкретного кристалла однозначно зависит от температуры. При повышении температуры концентрация таких дефектов возрастает, а при ее снижении – уменьшается. Причем при возвращении кристалла в исходное состояние (к исходной температуре) концентрация в точности будет соответствовать исходной, которая для данной системы определяется только температурой. Следует, однако, учитывать кинетический фактор, так как перемещение атомов в твердых телах даже при высоких температурах осуществляется достаточно медленно. Поэтому точное соответствие должно учитывать время достижения равновесного состояния.

Точечные(нульмерные) дефекты малы во всех измерениях, их размеры по всем направлениям не превышают нескольких атомных диаметров. Они состоят из одного атома (если это атом примеси) или дефектной позиции (если кристалл не содержит примесных атомов).

В кристаллах наиболее распространены два типа точечных дефектов: вакансиии междоузлия. Вакансиейназывается дефект, который образуется, когда один из узлов решетки оказывается не занятым атомом. В результате образования вакансии происходит некоторое перемещение соседних с дефектом атомов, и решетка оказывается напряженной.

Для ионных кристаллов вакансии бывают двух типов: катионныеи анионные. Часто ионные вакансии являются бинарными (то есть в твердом веществе одновременно появляются анионные и катионные вакансии) и стехиометрическими, то есть соответствуют стехиометрической формуле соединения. Например, в NaCl количество катионных и анионных вакансий относится как 1:1, в кристаллах CaCl2 – как 1:2, в Al(NO3)3 – 1:3 и т.д.

Противоположным случаем является точечный дефект, связанный с внедрением атома в междоузлие. Межузельные атомы являются как бы избыточными, лишними атомами и располагаются между регулярными узлами решетки. Ими могут быть примесные атомы внедрения (в твердых растворах внедрения), замещения (в твердых растворах замещения, если их размеры превышают размеры основных атомов) и атомы, покинувшие свои позиции в кристаллической решетки с образованием вакансии. Причем если вакансии и примесные атомы замещения могут находиться в любых узлах решетки, то примесные атомы внедрения располагаются преимущественно в таких микропорах, где для них имеется достаточно свободного пространства. Так, атомы внедрения в металлах с кубической решеткой предпочтительно размещаются в октаэдрических незанятых позициях.

В принципе у Брылева в лекциях все хорошо расписано) поэтому буду комментировать его слайды

Для составления квазихимическихуравнений используют следующую символику Крегера-Винка. Отличительной особенностью точечных дефектов является то обстоятельство, что их трудно наблюдать непосредственно. Поэтому обнаруживать и изучать их приходится в основном по тому влиянию, которое они оказывают на физические свойства кристалла.

Вторая особенность этих дефектов состоит в том, что их концентрация может быть значительной даже в кристалле, находящемся втермодинамическом равновесии (то есть они являются равновесными дефектами).

Дислокации и поверхности раздела всегда повышают функцию Гиббса кристалла, в то время как введение некоторого количества точечных дефектов понижает ее до минимального значения. Это объясняется увеличением энтропии S кристалла. Равновесное состояние характеризуется минимумом функции Гиббса: G = H – TS. При образовании точечных дефектов растет внутренняя энергия кристалла и соответственно величина H, но одновременно увеличивается и составляющая TS. При повышенных температурах рост энтрапийного слагаемого TS из-за образования точечных дефектов компенсирует возрастание внутренней энергии кристалла и функция Гиббса оказывается минимальной.

 

 

Мнемоническое правило, которое предлагает банда Николаева «Френкель – всегда с нами». Появление точечных дефектов в кристалле может быть результатом тепловых флуктуаций. Под их воздействием атом, преодолев энергетический барьер, может перейти в междоузлие. В таком случае происходит образование сразу двух точечных дефектов – вакансии и межузельногоатома. Такая комбинация «вакансия – межузельный атом» называется дефектом Френкеля. Поскольку размеры катионов и анионов в ионных кристаллах могут сильно различаться, то возникают преимущественно катионные или анионные дефекты Френкеля. При образовании точечных дефектов возможен случай, когда одинаковое количество катионов и анионов выходят на поверхность кристалла, занимая поверхностные узлы. При этом в поверхностном слое кристалла образуется вакансия. При замещении вакансии атомом, лежащим глубже, она может продиффундировать в объем кристалла. Поскольку покинувший узел атом остается на свободной поверхности кристалла, в решетке сохраняется только один дефект – вакансия. Такую разновидность дефектов принято называть дефектом по Шоттки. Дефекты Шоттки в ионных кристаллах являются бинарными и стехиометрическими. Таким образом, в обоих приведенных случаях (дефекты по Шоттки и по Френкелю) стехиометрия соединения не нарушается.

С квазихимическими уравнениями можно работать, как и с обычными. Проявляется тот дефект, свободная энергия Гиббса которого меньше.

 

 







©2015 arhivinfo.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.