Система металл-вакуум-полупроводник, контактная разность потенциалов
При контакте М-В-П с разными значениями термодинамической работы выхода из-за разных термоэлектронных потоков встраивается электрическое поле с контактной разностью потенциалов. Предположим, что термодинамическая работа выхода у полупроводника n-типа меньше, чем у металла . Тогда начальный поток из полупроводника будет больше, чем у металла. В результате в металле появляется избыточная концентрация электронов (отрицательный заряд) а в полупроводнике положительный заряд ионов доноров. Между металлом и полупроводником возникает тормозящее электрическое поле для потока электронов из полупроводника с контактной разностью потенциалов. Через время пролета электронами вакуумного промежутка d потоки сравняются. При этом энергия электрона в вакууме вблизи металла увеличивается на величину , что эквивалентно выравниванию уровня Ферми в плоскости контакта (барьеры со стороны металла и полупроводника выровнялись ; ). Начальный поток . После взаимодействия потоки выравниваются (рисунок 4.4) из-за увеличения барьера со стороны полупроводника, вызванного тормозящим контактным полем, на величину . . Откуда следует , где .
а) б) в) Рисунок 4.4 - Контакт М-В-П (а); энергетическая диаграмма в исходном состоянии (б); после установления равновесия (в)
Оценим глубину проникновения поля в полупроводник и металл (рисунок 4.5). Из закона Гаусса следует, что поверхностная плотность заряда равна вектору электростатической индукции: , где – поверхностная плотность заряда, – диэлектрическая проницаемость вакуума, – относительная диэлектрическая проницаемость. Рисунок 4.5 - К определению глубины проникновения поля в полупроводник
Поверхностная плотность связана с объемной концентрацией NV , откуда . Поскольку поле в зазоре однородно (конденсатор) (рисунок 4.4, а) . Рассмотрим Ge: ; ; Å.
В металле объемная концентрация на семь порядков выше . Следовательно, Å. В системе М-В-П все контактное поле локализовано в вакууме, Оно отсутствует как в металле, так и в полупроводнике, а следовательно, не меняет энергии электронов ни в металле, ни в полупроводнике (рисунок 4.4). Контактную разность потенциалов измеряют методом вибрирующего зонда. При вибрации зонда относительно поверхности исследуемого твердого тела наводится переменный ток. ; , S – площадь зонда.
©2015 arhivinfo.ru Все права принадлежат авторам размещенных материалов.
|